Система тепловизионного контроля электронных модулей представляет собой комплекс для контроля и последующего анализа теплового поля тестируемого изделия в инфракрасном диапазоне.
Система FT-17 IR построена на базе шасси хорошо апробированного тестера функционального контроля FT-17M, что позволяет реализовать с ее помощью термографические исследования тестируемого изделия в условиях различных режимов нагрузки. Система способна отображать отклонения температурных режимов компонентов расположенных на поверхности тестируемого изделия от эталонных или рассчитанных параметров, что с высокой степенью вероятности указывает на наличие дефектов.
Для реализации тепловизионного контроля системой FT-17 IR эмулируются реальные рабочие режимы работы тестируемого электронного модуля. В зависимости от режима, распределение температуры по контролируемому изделию может быть различным, при этом система тепловизионного контроля фиксирует инфракрасное излучение с поверхности исследуемого изделия. По этим данным формируется цветная карта теплового поля, где цвета соответствуют определенной температуре. Полученная пирометрическая информация обрабатывается пакетом специального ПО. При этом реализуется не только наблюдение за распределением температуры по поверхности контролируемого изделия, но и производится автоматический анализ созданной тепловой карты. Эти данные сравниваются с эталонными, рассчитываемыми при проектировании изделия или снятыми с эталонного изделия. На основании расхождений выявляются температурные аномалии, указывающие на дефект. Важной особенностью интеграции тепловизора в FT-17M является возможность исследования динамики теплового поля изделия. Выявление компонентов с резким перепадом температур во время работы позволяет определять места с неблагоприятными условиями эксплуатации, так как резкое изменение температуры в большей степени влияет на рост вероятности отказа электронных компонентов.
Отличительные особенности / преимущества:
Области применения бесконтактного термографического исследования:
Возможности: